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OL 750–QE 與 OL 750 DSR不同之處是采用了獨(dú)特設(shè)計(jì)的量子效率測(cè)試附件 OL 740-71（上圖），可以實(shí)現(xiàn)光譜響應(yīng)、鏡面反射率、內(nèi)量子效率的測(cè)試。在該測(cè)試系統(tǒng)中，首先通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)鏡與樣品的比對(duì)，得到探測(cè)器在該角度下的光譜反射率，再使用標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器與樣品比對(duì)得到絕對(duì)光譜響應(yīng)特性（EQE），通過(guò)計(jì)算扣除反射的光，得到內(nèi)量子效率（IQE）。

如果探測(cè)器表面是毛面的，或者需要知道不同入射角度下的反射率，需要專門(mén)的反射率測(cè)試附件：

• 如果探測(cè)器表面為毛面，則反射中含有漫反射和鏡面反射，可采用 OL 740-70裝置，測(cè)試總反射率以及透過(guò)率。
• 如果探測(cè)器表面為鏡面，在漫反射可忽略的情況下，可適用 OL 75 MA鏡面反射測(cè)試裝置，并可得到不同入射角度下的反射率，得到入射角度相關(guān)的IQE。

OL 2150 白光光源可以提供太陽(yáng)能電池測(cè)試時(shí)的偏置光源，相當(dāng)于0.5-1.5個(gè)太陽(yáng)輻射常數(shù)

光譜功率響應(yīng)度（A/W）在很多情況下需要轉(zhuǎn)化為量子效率，量子效率為產(chǎn)生的電子數(shù)與吸收的光子數(shù)之比，要獲得準(zhǔn)確量子效率，需要排除入射光子中發(fā)射或透射出去的光子，又稱為內(nèi)量子效率(IQE),表示了材料本身的光電轉(zhuǎn)換效率，又稱IPCE。

在很多情況下，探測(cè)器的量子效率忽略了反射或透射掉的光子數(shù)，采用產(chǎn)生的電子數(shù)與入射的光子數(shù)之比，通常稱為外量子效率(EQE).。對(duì)于許多實(shí)際應(yīng)用的探測(cè)器，或標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器，外量子效率表示探測(cè)器的響應(yīng)特性。

外量子效率可以通過(guò)光譜功率響應(yīng)度計(jì)算：

EQE(λ) = SR(λ) X 1.2395/λ
SR為功率響應(yīng)度

內(nèi)量子效率
IQE(λ) = EQE(λ)/(1 - R(λ)) ?
R(λ) 為探測(cè)器表面反射率

• IRD 采用 OL 750 for Radiometric Characterization.pdf