在全面屏、異形屏時代,密集取點或無縫分割進行均勻性評價,都存在原理上的缺陷,不能正確反應屏幕真實均勻性。主要是漏點和無法處理非規則形狀。而LMK成像亮度計結合Area Scan算法可以輕松應對各種異形屏幕均勻性測試的需求。